1000度高溫顯微鏡熱臺(tái) 高溫探針臺(tái)? 用于觀察高溫樣品結(jié)晶過(guò)程 和熱電阻測(cè)試 光學(xué)測(cè)試 高溫真空探針臺(tái) 主要應(yīng)用于半導(dǎo)體 材料科學(xué) 納米技術(shù) 光電子 薄膜技術(shù)等領(lǐng)域

半導(dǎo)體器件測(cè)試與表征.

1.材料性能表征

2.薄膜與界面性能研究

3.功能材料及元器件的研發(fā)

4.微電子技術(shù)與工藝研究

5.熱學(xué)性能測(cè)試與研究?

1000度高溫顯微鏡熱臺(tái) 高溫探針臺(tái)? 用于觀察高溫樣品結(jié)晶過(guò)程 和熱電阻測(cè)試 光學(xué)測(cè)試 高溫真空探針臺(tái) 主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件測(cè)試與表征材料性能表征薄膜與界面性能研究? 功能材料及元器件的研發(fā) 微電子技術(shù)與工藝研究 熱學(xué)性能測(cè)試與研究?