編輯 | 環(huán)儀儀器

隨著SSD（固態(tài)硬盤）在各種應(yīng)用中的廣泛使用，其性能和耐久性測試變得尤為重要。小編將根據(jù)用戶的測試要求，在室溫下進(jìn)行固態(tài)硬盤BIT測試的實(shí)施方法，以確保SSD在實(shí)際工作中的可靠性和穩(wěn)定性。

室溫SSD老化試驗(yàn)柜使用步驟：

測試設(shè)備：環(huán)儀儀器 室溫SSD老化試驗(yàn)柜

測試樣品：SSD（M2接口/SATA接口均可）

測試步驟：

步驟一：建立通信

樣品在SSD老化試驗(yàn)柜安裝好后，使用MI協(xié)議（NVM Express Management Interface協(xié)議）建立服務(wù)器的BMC與SSD之間的通信鏈路。

設(shè)置通信頻率，以確保服務(wù)器的BMC能夠按照設(shè)定的頻率從SSD獲取NAND溫度值。

步驟二：獲取溫度值

通過已建立的通信鏈路，BMC從SSD獲取NAND溫度值。

計(jì)算BMC獲取的NAND溫度值與BIT測試的需求溫度值之間的溫度偏差值。

步驟三：設(shè)定溫度控制器

設(shè)定溫度偏差閾值，該閾值用于判斷NAND溫度是否在可接受范圍內(nèi)。

根據(jù)計(jì)算得到的溫度偏差值與設(shè)定的閾值大小關(guān)系，選擇相應(yīng)的溫度控制器。

步驟四：控制風(fēng)扇轉(zhuǎn)速

選擇支持Fuzzy-PID控制方法的溫度控制器。

根據(jù)選擇的控制器，調(diào)節(jié)BMC對風(fēng)扇轉(zhuǎn)速進(jìn)行智能控制，以使SSD的NAND溫度值逐漸接近需求溫度值。

在測試過程中，SSD老化試驗(yàn)柜可控制整個(gè)測試過程的溫度，確保溫度穩(wěn)定，一旦溫度超出閾值，就會啟動溫度控制器來調(diào)整溫度。

從上面的測試可以看出，室溫SSD老化試驗(yàn)柜為測試提供了測試環(huán)境以及所需測試溫度。如有室溫SSD老化試驗(yàn)柜其他疑問，可以訪問“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。