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透射電鏡TEM制樣方法大匯總

2022-10-21 14:16 作者:bili_74204057874  | 我要投稿

在做透射電子顯微鏡(TEM測試)時,科學(xué)指南針檢測平臺工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,大多數(shù)同學(xué)對TEM測試制樣方法不是很清楚,針對此,科學(xué)指南針檢測平臺團(tuán)隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們;

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1.樣品要求

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1.樣品被觀察區(qū)對入射電子必須是“透明”的。電子穿透樣品的能力與其本身能量及樣品所含元素的原子序數(shù)有關(guān)。一般透射電鏡樣品的厚度在100nm以下。對于高分辨電鏡樣品,厚度必須小于10nm。

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2.樣品必須牢固。以便能經(jīng)受電子束的轟擊,并防止裝卸過程中的機(jī)械振動而損壞。對于易碎的塊狀樣品,必須將其粘在銅網(wǎng)上,銅網(wǎng)對樣品起著加固作用。對于粉末樣品,可設(shè)法將其分散在附有支持膜(如火棉膠膜、微柵膜、超薄炭膜)的銅網(wǎng)上,銅網(wǎng)及火棉膠膜對粉末樣品起支撐、承載和黏附作用。生物樣品則必須先固定、硬化,然后切成超薄切片,再置于覆有支持膜的載網(wǎng)上。

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3.樣品必須具有導(dǎo)電性。對于非導(dǎo)電樣品,應(yīng)在表面噴一層很薄炭膜,以防止電荷積累而影響觀察。

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4.防止樣品被污染。在制樣過程中,樣品的超微結(jié)構(gòu)必須得到完好的保存。應(yīng)嚴(yán)格防止樣品被污染和樣品結(jié)構(gòu)及性質(zhì)的改變(如相變、氧化等)。

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2.載網(wǎng)與支持膜的選用

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載網(wǎng)通常是一種多孔的金屬片,對樣品起加固和支撐作用。載網(wǎng)可以用Cu、Ni、Mo、Al、W、Au及尼龍等材料制作,但通常使用Cu制作,故統(tǒng)稱銅網(wǎng)。它有許多不同的規(guī)格,可根據(jù)樣品的性質(zhì)選擇使用。大多數(shù)透射電鏡樣品在制樣時,為了確保樣品能搭載在“載網(wǎng)”上,會在“載網(wǎng)”上覆一層有機(jī)膜,稱為“支持膜”。這種具有支持膜的載網(wǎng),稱為“載網(wǎng)支持膜”。

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支持膜為一層非晶質(zhì)的薄膜,厚約20nm。它在電子束照射下應(yīng)該是“透明的”,本身并無任何結(jié)構(gòu),且與樣品不會發(fā)生反應(yīng)。

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下面具體介紹支持膜的分類:

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1、無孔碳支持膜系列

碳支持膜是在方華膜(也可用火棉膠)上再覆蓋一層碳,是最常見并被廣泛采用的支持膜。當(dāng)樣品放在電鏡中觀察時,“載網(wǎng)支持膜”在電子束照射下,會產(chǎn)生電荷積累,引起樣品放電,從而發(fā)生樣品飄移、跳動、支持膜破裂等情況。所以,在支持膜上噴碳,提高支持膜的導(dǎo)電性,達(dá)到良好的觀察效果。一般膜厚度為7-10nm。?碳支持膜是以有機(jī)層為主,膜層較薄,背底一般影響很小。通常用水或乙醇分散樣品,支持膜均不會受腐蝕。

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如果您的樣品屬于磁性粉末樣品可以使用兩種方法:

1.樹脂包埋,超薄切片;2.可以使用雙聯(lián)網(wǎng)碳支持膜。

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雙聯(lián)網(wǎng)碳支持膜

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2、純碳支持膜系列

純碳支持膜是在碳支持膜的基礎(chǔ)上,將有機(jī)層用特殊方法去除后得到的純碳膜,很適合需要在有機(jī)溶劑或高溫下處理的樣品(如:氯仿、四氫呋喃等有機(jī)溶劑下使用)。適合觀察10nm以上的樣品。膜總厚度:20~40nm。

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超薄碳支持膜是在微柵的基礎(chǔ)上,疊加了一層很薄的碳膜,一般為3-5nm。這層超薄碳膜的目的,是用薄碳膜把微孔擋住。這主要是針對那些分散性很好的納米材料,如:10nm以下的樣品,分散性極好,如果用微柵就有可能從微孔中漏出,如果在微柵孔邊緣,由于膜厚可能會影響觀察。所以,用超薄碳膜,就會得到很好的效果。

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3、有孔(微柵)支持膜系列

在制作支持膜時,特意在膜上制作的微孔,所以也叫“微柵支持膜”,它也是經(jīng)過噴碳的支持膜,一般膜厚度為15-20nm。它主要是為了能夠使樣品搭載在支持膜微孔的邊緣,以便使樣品“無膜”觀察。無膜的目的主要是為了提高圖像襯度。所以,觀察管狀、棒狀、納米團(tuán)聚物等,常用“微柵”支持膜,效果很好。特別是觀察這些樣品的高分辨像時,更是最佳的選擇。

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4、非碳材料支持膜系列

純方華膜:方華支持膜的化學(xué)成分是聚乙烯醇縮甲醛,可溶于二氯乙烷或三氯甲烷溶液,所形成的膜,強度高,透過率好。由于無碳方華膜是純的有機(jī)膜,上面沒有任何鍍層物質(zhì),所以膜的彈性好,背底影響小,可支持多種樣品觀察。是承載超薄切片的理想材料,在觀察納米粉末等材料時,也表現(xiàn)的非常出色。但方華膜因?qū)щ娦阅懿缓?,在電子束照射下,會因高溫或電荷積累,引起局部受熱碳化,產(chǎn)生局部黑斑,樣品漂移,甚至使膜破碎,損傷被觀察樣品。通常在100kv電鏡上使用較多。膜厚度通常為10-15nm。推薦選用200目載網(wǎng)。

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鍍金支持膜:是在一層有機(jī)方華膜上再覆蓋一層金膜,便于EDS檢測。膜厚度:10~20nm。推薦選用200目載網(wǎng)。

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氮化硅薄膜窗格:可承受1000°C以上的高溫。彈性較好,適用于各種樣品制備技術(shù),在電子束轟擊下比較穩(wěn)定,襯度及親水性較碳膜稍差。

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3.如何區(qū)別載網(wǎng)正反面

比較靠譜的方法是通過對比載網(wǎng)邊緣與中間區(qū)域亮度,碳膜的一面被視為正面

正面:載網(wǎng)邊緣與中間區(qū)域亮度相同

反面:載網(wǎng)邊緣的亮度高于中間區(qū)域

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4.樣品制備

請參考之前這一篇TEM樣品制備的文章


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