X-RAY檢測與AOI檢測有什么不同?-卓茂科技
有不少人分不清X-RAY檢測和AOI檢測,今天小編給大家簡要分析一下:
X-RAY,又稱X射線或X光,是一種波長超短、頻率高的光,其攜帶較大的能量,可用于穿透非透明材質(zhì)的物體,因此在各行業(yè)中廣泛應(yīng)用,如醫(yī)學CT檢測、工業(yè)射線檢測、半導體封裝、汽車工業(yè)等領(lǐng)域。
X-RAY屬于內(nèi)部探傷檢測,AOI屬于外觀檢測,很多企業(yè)喜歡采用AOI與X-RAY檢測相結(jié)合的方式來進行產(chǎn)品內(nèi)外探傷檢測。

AOI通過光學成像來檢測產(chǎn)品外觀是否有缺陷,例如SMT插件是否到位,產(chǎn)品表面是否有劃痕等。但如果要檢測芯片內(nèi)部是否正常,AOI就不能滿足這個需求了,但是X-ray檢測設(shè)備可以直接將光射線到產(chǎn)品內(nèi)部進行檢測,目前已廣泛應(yīng)用于產(chǎn)品內(nèi)部SMT領(lǐng)域,如BGA,CSP,倒裝芯片,QFN,雙行QFN,DFN以及其他缺陷的檢測,還可以檢測印刷電路板、封裝部件、連接器等的焊點和內(nèi)部損壞。
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