可；聯(lián)；132~1733~1286（譚）

測(cè)量頻率1MHz~300MHz● 測(cè)量時(shí)間：最快0.5ms● 基本精度±0.72%rdg.● 測(cè)量方式：RF I-V法● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小● 豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量主機(jī)不帶測(cè)試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580A專用的測(cè)試治具。基本參數(shù)測(cè)量模式 LCR（LCR測(cè)量），分析（掃頻測(cè)量），連續(xù)測(cè)量測(cè)量參數(shù) Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q精度保證范圍 100 mΩ~5 kΩ顯示范圍 Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)

基本精度 Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°測(cè)量頻率 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進(jìn))測(cè)量信號(hào)電平 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm