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安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)方法及要求

2022-01-14 11:52 作者:delta德?tīng)査x器  | 我要投稿

安規(guī)(XY)電容器可靠性試驗(yàn)執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)是GB/T6346.14-2015《電子設(shè)備用的固定電容器》中的相關(guān)條款,對(duì)應(yīng)的IEC標(biāo)準(zhǔn)是IEC60384-14:2005。

一、安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)方法

二、安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)方法及要求

(一)、高溫負(fù)荷

1. Y電容高溫負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度:最高溫度+10℃

試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓:Y1、Y2:1000VAC

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容高溫負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度:最高溫度115℃

試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓:700VDC±3V

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

高溫負(fù)荷試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

注:試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1KΩ1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)!

(二)、溫度沖擊

1. Y電容溫度沖擊試驗(yàn)方法

試驗(yàn)條件:最高溫度與最低溫度來(lái)回循環(huán)5次,每次0.5H

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容溫度沖擊試驗(yàn)方法

試驗(yàn)條件:最高溫度與最低溫度來(lái)回循環(huán)5次,每次0.5H

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

溫度沖擊試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

(三)、耐濕負(fù)荷

1. Y電容耐濕負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度:40℃±3℃

濕度:93%±3%

試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓:Y1、Y2:1000VAC

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

2. X電容耐濕負(fù)荷試驗(yàn)方法

試驗(yàn)溫度:40℃±3℃

濕度:93%±3%

試驗(yàn)時(shí)間:96H+8H

實(shí)驗(yàn)電壓:700VDC±3V

電容并聯(lián)測(cè)試

恢復(fù)1~2小時(shí)測(cè)試電性能

耐濕負(fù)荷試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

注:試驗(yàn)電路板上要串聯(lián)一個(gè)大約1KΩ 1/4W的保護(hù)電阻,且施加負(fù)荷電壓時(shí)不可瞬間施加其試驗(yàn)電壓,應(yīng)逐步加壓至試驗(yàn)電壓,待其穩(wěn)定后每4H檢測(cè)負(fù)荷電壓是否在規(guī)定范圍內(nèi)!

(四)、溫度特性

1. 低溫特性試驗(yàn)方法

測(cè)試條件:最低溫度±3℃

0.5H后測(cè)試其電性參數(shù)

試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

2. 高溫特性試驗(yàn)方法

測(cè)試條件:最高溫度±3℃

0.5H后測(cè)試其電性參數(shù)

高溫特性試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.0

3. 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)方法

測(cè)試溫度:最高溫度±3℃

試驗(yàn)時(shí)間:1000H+24H

恢復(fù)1-2小時(shí)測(cè)試電性能

試驗(yàn)后參數(shù)與外觀要求

外觀:無(wú)顯著異常

容量變化率:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

漏電流:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

DF(損耗角):試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

絕緣電阻:試驗(yàn)前后的Cpk值>1.5

三、電容器檢測(cè)設(shè)備

Delta德?tīng)査x器專業(yè)致力于關(guān)鍵電子元器件性能及壽命檢測(cè)設(shè)備,該系列產(chǎn)品應(yīng)用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件,器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座,電容器(X電容器、Y電容器),隔離電阻器(跨線電阻),變壓器/開(kāi)關(guān)電源用變壓器,光電耦合器, 電源開(kāi)關(guān)、繼電器, 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器,電位器、定時(shí)器、溫控器、限溫器、熱保護(hù)器、電控制器,水位開(kāi)關(guān),旋轉(zhuǎn)開(kāi)關(guān),傳感器,印制線路板,壓敏電阻,電動(dòng)機(jī), 熱敏電阻器等進(jìn)行機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試,額定電壓測(cè)試,額定電流測(cè)試,分?jǐn)嗳萘繙y(cè)試,負(fù)載特性測(cè)試,發(fā)熱(溫升)測(cè)試,正常操作測(cè)試,壽命可靠性測(cè)試,機(jī)械耐久性測(cè)試等試驗(yàn)項(xiàng)目。

電容器分別包括檢測(cè)它的破壞性試驗(yàn)、浪涌放電試驗(yàn)、熱穩(wěn)定性試驗(yàn)、沖擊放電試驗(yàn)、自愈性試驗(yàn)、脈沖電壓試驗(yàn)、防爆試驗(yàn)、耐壓測(cè)試、自燃試驗(yàn)、耐久性試驗(yàn)等等測(cè)試性能。

電容器沖擊放電試驗(yàn)臺(tái)

電容器破壞性試驗(yàn)臺(tái)

電容器脈沖電壓試驗(yàn)裝置

電容器耐久性試驗(yàn)裝置


安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)方法及要求的評(píng)論 (共 條)

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