編輯 | 環(huán)儀儀器

市場(chǎng)上的SSD(Solid State Disk或Solid State Drive，固態(tài)硬盤)盤片在出廠前，一般都會(huì)進(jìn)行可靠性驗(yàn)證測(cè)試(Reliability Demonstration Testing，RDT)，主要測(cè)試盤片是否能正常工作，硬件是否存在虛焊，DRAM(動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存)是否異常，篩選出NAND閃存(NAND FLASH)中的壞塊等操作，RDT的測(cè)試需要使用硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜。

那么，硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜可以做哪些試驗(yàn)？下面我們來(lái)了解一下。

環(huán)儀儀器 硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜的測(cè)試項(xiàng)目：

主要目的是測(cè)試驗(yàn)證SPOR是否正常。通常包括下列幾種斷電狀況測(cè)試:

1.所有SSD write commands 完成之后，PC 發(fā)出standby immediate command，然后斷電，再上電之后再比對(duì)上一斷電前所有寫入成功的data，此用于NOPLP CAP SSD。

2.所有SSD write commands 完成之后，立即斷電，再上電之后需要比對(duì)上一斷電前所有寫入成功的data。(SPOR)在writecommand 仍在進(jìn)行之時(shí)斷電，再上電之后需要比對(duì)上一斷電前所有寫入成功的data。

3.write SSD

使用的program execution thread 與秒數(shù)倒數(shù) thread無(wú)關(guān)，所以可以保證隨機(jī)斷電。

4.Burn-InTest

與Windows Burn-In-Test 的LBA Mode測(cè)試大致相同，提供7個(gè)Pattern。

5.Power Consumption Test

測(cè)試read，write， idle時(shí)的功耗，以篩出耗電異常SSD。

6.Performance Test

測(cè)試讀寫性能，以篩出異常SSD。

以上是環(huán)儀儀器硬盤RDT測(cè)試高溫老化柜可用于的測(cè)試項(xiàng)目，更多測(cè)試項(xiàng)目不逐一講解，具體可以訪問(wèn)“環(huán)儀儀器”官網(wǎng)，咨詢相關(guān)技術(shù)人員。