XPS光電子能譜分析技術(shù)應(yīng)用研討會(huì)

2023年3月29日晚七點(diǎn)，優(yōu)爾鴻信和華晟達(dá)聯(lián)合開展“XPS技術(shù)及其應(yīng)用”網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)，邀請(qǐng)了PHI-CHINA技術(shù)專家，線上詳細(xì)介紹XPS技術(shù)在檢測(cè)分析中所起到的重要作用，講解檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)和分享相關(guān)案例，線上即時(shí)為您答疑解惑。

X射線光電子能譜技術(shù)簡(jiǎn)介

X射線光電子能譜，簡(jiǎn)稱 XPS,是利用X射線入射樣品表面，通過(guò)探測(cè)出射的光電子來(lái)獲取樣品表面組成和化學(xué)態(tài)信息的一種表面分析方法。目前，XPS作為實(shí)驗(yàn)室中重要的表面分析技術(shù)手段，已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于材料、能源、催化、微電子以及半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等領(lǐng)域中，對(duì)于理解其中的構(gòu)效關(guān)系起到重要的作用。

隨著科學(xué)研究的深入，電子產(chǎn)品對(duì)XPS的測(cè)試要求也是越來(lái)越高，不僅要求提供高的能量分辨譜圖，還要獲取化學(xué)態(tài)的空間分辨信息，以及原位工作環(huán)境下的化學(xué)信息。

總之，XPS技術(shù)是一種有前途的材料表面分析方法，可以用來(lái)研究材料的表面結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)，為材料的設(shè)計(jì)和制備提供重要的信息。

值得期待。

編輯：Amanda王莉

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