腦電-Scan數(shù)據(jù)處理學(xué)習(xí)

scan4.5是ERP分析的一個(gè)軟件,主要包含采集、離線分析、3D數(shù)據(jù)建模。
一般用的是一個(gè)采集和分析。


支持的數(shù)據(jù)格式如下:
謹(jǐn)記:分析數(shù)據(jù)的時(shí)候要轉(zhuǎn)化成可以支持的格式。

AC數(shù)據(jù)處理步驟:
第一步行為數(shù)據(jù)的融合
第二部腦電數(shù)據(jù)的預(yù)覽
第一步去DC數(shù)據(jù)的偽跡
第二部眼點(diǎn)單極合并為雙極
最主要的是去DC漂移和單極合并為雙極。
其他往后的步驟AC和DC步驟一樣。
腦電預(yù)覽、去除眼電、數(shù)據(jù)分段、基線矯正、偽跡去除、疊加平均
轉(zhuǎn)參考和濾波什么時(shí)候都可以操作,其他步驟嚴(yán)格按照流程。
點(diǎn)擊右鍵

融合行為數(shù)據(jù)主要目的是把RT和ACC融合進(jìn)去。
注意:視頻講解的是一個(gè)P300的數(shù)據(jù),不需要融合行為數(shù)據(jù)。
主要把沒有代碼的和漂移的標(biāo)記成Bad Block

標(biāo)記的時(shí)候盡量在mark之前一點(diǎn),然后點(diǎn)擊鼠標(biāo)左鍵,出現(xiàn)以下界面:

標(biāo)記成功會(huì)出現(xiàn)以下陰影顏色

腦電預(yù)覽完這個(gè)流程,一定要在此點(diǎn)擊Bad Block,才能完全退出去。
如下這種數(shù)據(jù)標(biāo)記成Bad Block,數(shù)據(jù)很粗并且有漂移。

主要看VEO,這是一個(gè)明顯的眨眼,眨眼是一個(gè)負(fù)的值。




去除眼電之后的部分?jǐn)?shù)據(jù)。



分段之后需要把數(shù)據(jù)保存下來。


命名然后點(diǎn)擊ok。

下面界面0點(diǎn)并沒有重合。


X軸

Y軸

最后點(diǎn)擊確認(rèn),之后的形成如下圖。



選完之后保存。


這一步處理完之后,形成下面的數(shù)據(jù)。




注意眼電要標(biāo)記紅。

最后點(diǎn)擊ok。

因?yàn)橐陨暇芙^的是0段,太寬松了,所以會(huì)重新設(shè)置數(shù)值。



接受的數(shù)據(jù)占總體數(shù)據(jù)的80%以上。
設(shè)置成±75或者±80







10是小概率事件,20是大概率事件。

選完10之后,點(diǎn)擊ok。
然后點(diǎn)擊保存。

注意格式avg。

保存即可,之后形成以下界面。

下圖是疊加平均周之后的一個(gè)結(jié)果。



改為±15或者±20




注意選擇LOW30,時(shí),要參考不同的文獻(xiàn)。

以下是濾波之后形成的數(shù)據(jù)。

原始數(shù)據(jù)采集的時(shí)候用的是頭頂做參考

可以看出來是頭頂做的參考





轉(zhuǎn)換到M1和M2上

點(diǎn)擊ok

點(diǎn)擊保存

轉(zhuǎn)參考之后的數(shù)據(jù)如下

也就是處理第二類數(shù)據(jù)



點(diǎn)擊鼠標(biāo)的位置

進(jìn)行位置調(diào)整

調(diào)整后

最后保存即可。
總平均


