????????球差電鏡和透射電鏡的區(qū)別是什么？今天鑠思百檢測小編帶大家詳細了解一下吧

????????差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。材料學、生命科學、半導體制造、石油煤炭等研究領(lǐng)域的可靠助手。

一，什么是球差？

????????100 kV的電子束的0.037埃，而普通TEM的電分辨率僅僅為0.8 nm。這主要是由TEM中磁透鏡的像差造成的。 球差是由于電磁 透鏡 中心區(qū)域和 邊緣區(qū)域 對電磁波會聚能力不同而造成的。遠軸電磁波通過透鏡時被折射得比近軸電磁波要厲害得多，因而由同一物點散射的電磁波經(jīng)過透鏡后不交在一點上，而是在透鏡相平面上變成了一個漫射圓斑。球差是限制透鏡分辨本領(lǐng)zui主要的因素。

二，球差透射電鏡（ACTEM）和普通透射電鏡(TEM)的區(qū)別

????????TEM中包含多個磁透鏡：聚光鏡、物鏡、中間鏡和投影鏡等。球差是由于磁鏡的構(gòu)造不完美造成的，那么這些磁鏡組都會產(chǎn)生球差。當我們矯正不同的磁透鏡就有了不同種類的ACTEM。

????????STEM為主的TEM，球差校正裝置會安裝在聚光鏡位置，即為AC-STEM。校正器安裝在物鏡位置的即為AC-TEM。一臺TEM上安裝兩個校正器的，就是所謂的雙球差校正TEM。此外，由于校正器有電壓限制，因此不同的型號的ACTEM有其對應的加速電壓。

三，球差透射（ACTEM）的電鏡的優(yōu)勢

????????高分辨率：目前最高分辨率可達到0.06 nm，是普通透射的一個數(shù)量級。

四、球差透射電鏡和透射電鏡的測試能力區(qū)別

????????球差透射電鏡有TEM和STEM兩種成像模式，在TEM模式中更多地用于形貌的觀察，STEM模式常用于原子構(gòu)象以及進行EDS，EELS成分線掃和mapping的測試，進行元素分析。由于球差校正透射電子顯微鏡不僅具有亞埃級的空間分辨率，而且兼具多種實驗功能，因此可以在原子尺度內(nèi)同時研究材料的晶體結(jié)構(gòu)和對應的電子結(jié)構(gòu)特征，從而理解樣品的微觀晶體結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)聯(lián)，是研究材料構(gòu)效關(guān)系的一種非常有效的手段，因而其在物理學、材料學和化學等學科領(lǐng)域具有非常廣泛的應用。

????????雖然現(xiàn)在ACTEM和ACSTEM正在“大眾化”，但是并非一定要用這么高大上的裝備。如果你想觀察你的樣品的原子級結(jié)構(gòu)并希望知道原子的元素種類（例如納米晶體催化劑等），ACSTEM將會是比較好的選擇。如果你想觀察樣品的形貌和電子衍射圖案或者樣品在TEM中的原位反應，那么物鏡校正的ACTEM將會是更好的選擇。

五，球差電鏡可以做哪些測試？

????????球差電鏡的工作方式有兩種模式分別為TEM模式和STEM模式

1.?TEM模式：更多進行形貌的觀察。

2.?STEM模式：得到原子構(gòu)象，以及進行EDS,EELS成分線掃和mapping的測試，進行元素分析。

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