材料的顯微分析能獲得材料的組織結構，揭示材料基本性質和基本規(guī)律，在材料測試技術中占重要的一環(huán)。對各種顯微分析設備諸如SEM、TEM、AFM、STM等，各位材料屆的小伙伴一定不會陌生。今天小編整理了關于掃描電鏡SEM的基本構造來分享給大家。

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掃描電子顯微鏡（SEM）

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掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；③試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。

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掃描電子顯微鏡基本構造

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掃描電鏡結構圖

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組成部件：電子槍、電子透鏡、掃描系統(tǒng)、電子收集系統(tǒng)(形貌分析)、成像熒光屏、X射線接收系統(tǒng)(成分分析)

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