1、file——open——文件類型改成all files，找到自己需要的圖片——打開(kāi)如1

2、格式轉(zhuǎn)換：edit——change data type——選integer——OK——OK

3、測(cè)量比例尺：鼠標(biāo)放到比例尺左下角滾動(dòng)滾輪，即可放大圖片——鼠標(biāo)右鍵，換成使用虛線（如2）——拉出一條和比例尺一樣長(zhǎng)度得線（如3）——microscope——calibrate image——輸入比例尺對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)度和單位（如4）——OK

4、測(cè)量晶格條紋：在需要測(cè)量晶格條紋的位置放大——右鍵鼠標(biāo)，切換為矩形——框住對(duì)應(yīng)晶格條紋區(qū)域（按著ctrl和shift框?yàn)檎叫稳?）——progress——FFT出現(xiàn)6所示得兩個(gè)亮點(diǎn)——右鍵鼠標(biāo)，選擇spot（如7）——在右上角亮點(diǎn)上單擊會(huì)把兩個(gè)亮點(diǎn)選中——progress——inverse FFT得到如8——在新出現(xiàn)的圖片上右鍵——點(diǎn)最后一個(gè)profile——拉出一條垂直于晶格條紋的線（如9）會(huì)彈出新的藍(lán)色圖片——拖動(dòng)上面拉的線的終點(diǎn)，使藍(lán)色峰高度基本一致——在藍(lán)色圖上框出幾個(gè)相對(duì)一致的峰，用出現(xiàn)的長(zhǎng)度除以峰的個(gè)數(shù)即為晶格條紋間距，如10，本例中晶格條紋間距為0.193nm